[发明专利]二维位移测量装置及测量方法有效
申请号: | 201710277404.9 | 申请日: | 2017-04-25 |
公开(公告)号: | CN106949842B | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 谈宜东;郭波;朱开毅;卢悦越;张书练 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 哈达 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种二维位移测量装置,包括:激光器,用于输出偏振激光;分光移频模块,用于将偏振激光进行分光并实现差动移频,形成至少三束光,且三束光频率不同;汇聚模块,用于对至少三束光进行汇聚后入射至待测目标上,且接收被待测目标散射返回的激光,使返回的激光进入激光器,以对激光器的输出激光的光强进行调制;信号检测模块,设置于从激光器出射的偏振激光的光路上,用于对激光器输出激光的光强进行检测并转换为电信号;信号处理模块,与所述信号检测模块连接,用于对信号检测模块输出的电信号进行处理及计算,获得离面位移及面内位移。本发明还提供一种位移测量方法。本发明提供的二维位移测量装置及方法测量精度高。 | ||
搜索关键词: | 二维 位移 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种二维位移测量装置,其特征在于,所述二维位移测量装置包括:激光器,用于输出偏振激光;分光移频模块,设置于从激光器出射的偏振激光的光路上,用于将偏振激光进行分光并实现差动移频,形成至少三束光,包括第一光束I1、第二光束I2及第三光束I3,且三束光频率不同;其中,所述分光移频模块包括分光单元及移频单元,所述分光单元用于对进入分光移频模块的激光进行分光,形成至少三束激光;所述移频单元用于对所述三束激光进行移频,形成频率不同的至少三束光;汇聚模块,设置于从分光移频模块出射的至少三束光的光路上,用于对至少三束光进行汇聚后入射至待测目标上,且接收被待测目标散射返回的激光,使返回的激光进入激光器,以对激光器的输出激光的光强进行调制;信号检测模块,设置于从激光器出射的偏振激光的光路上,用于对激光器输出激光的光强进行检测并转换为电信号;信号处理模块,包括信号处理单元和数据处理单元,所述信号处理单元与所述信号检测模块连接,用于对信号检测模块输出的电信号进行初步处理,所述数据处理单元与所述信号处理单元连接,用于对初步处理后的电信号进行计算,获得离面位移及面内位移。
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