[发明专利]一种基于双振镜双物镜多模式宽场超分辨显微成像系统有效
| 申请号： | 201710266879.8 | 申请日： | 2017-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN107014793B | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 匡翠方;刘文杰;陈友华;朱大钊;刘旭;李海峰;张克奇;毛磊 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 胡红娟 |
| 地址： | 310013 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于双振镜双物镜多模式宽场超分辨显微成像系统，包括沿光路依次布置的激光器和分束镜，由分束镜分束为透射光路和反射光路，还包括：沿透射光路依次布置的第一扫描振镜系统和第一显微物镜，由第一显微物镜将光束入射至样品的下表面并激发荧光；沿反射光路依次布置的第二扫描振镜系统和第二显微物镜，由第二显微物镜将光束入射至样品的上表面并激发荧光；用于收集两路荧光信号的成像光路模块；和计算机，用于控制第一扫描振镜系统和第二扫描振镜系统对样品进行扫描，并根据收集的两路荧光信号进行数据处理和图像重构。本发明在一套系统中集成驻波干涉、结构光照明和多角度环状全内反射等多种宽场超分辨显微成像模式。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 双振镜双 物镜 模式 宽场超 分辨 显微 成像 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于双振镜双物镜多模式宽场超分辨显微成像系统，包括沿光路依次布置的激光器和分束镜，由所述分束镜分束为两路激发光路，其特征在于，还包括：沿第一激发光路依次布置的第一扫描振镜系统和第一显微物镜，由所述第一显微物镜将光束入射至样品的下表面并激发荧光；沿第二激发光路依次布置的第二扫描振镜系统和第二显微物镜，由所述第二显微物镜将光束入射至样品的上表面并激发荧光；用于收集两路荧光信号的成像光路模块；和计算机，用于控制所述的第一扫描振镜系统和第二扫描振镜系统对样品进行扫描，并根据收集的两路荧光信号进行数据处理和图像重构。
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