[发明专利]基于前向散射波和C均值聚类算法的板类缺陷定位方法有效

专利信息
申请号: 201710233537.6 申请日: 2017-04-11
公开(公告)号: CN106990169B 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 周邵萍;翟双苗;陈少杰;李勇;杨斌;张楠楠;刘伟 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/44
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 翁惠瑜
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于前向散射波和C均值聚类算法的板类缺陷定位方法,包括:获取无损伤板类结构和同类板损伤状态下的响应信号,以无损伤板类结构的响应信号作为基准信号,以同类板损伤状态下的响应信号为损伤信号;对基准信号和损伤信号进行预处理后做差,得到差值信号,通过Hilbert变换提取差值信号包络;提取直达波差值包络,以直达波差值包络的最大幅值衡量对应直达波差值的大小;获取每个传感器作为激励传感器时对应的直达波差值中最大的2组检测数据所在的传感器对,将所有传感器对分别用直线连接,获得2n条直线;以C均值聚类算法获得2n条直线的交点的聚类中心,定位缺陷位置。与现有技术相比,本发明具有定位精度高、操作简单等优点。
搜索关键词: 基于 散射 均值 算法 缺陷 定位 方法
【主权项】:
1.一种基于前向散射波和C均值聚类算法的板类缺陷定位方法,其特征在于,包括以下步骤:1)在板类结构中布置由n个传感器组成的稀疏阵列,选择最佳激励频率,对所述稀疏阵列中所有传感器依次进行激励,每次激励时,受激励的传感器为激励传感器,其余传感器为接收传感器,同时接收信号,作为响应信号,分别获取无损伤板类结构和同类板损伤状态下的响应信号,以所述无损伤板类结构的响应信号作为基准信号,以所述同类板损伤状态下的响应信号为损伤信号,n个传感器组成一圆形稀疏阵列,相邻传感器的间距不大于50mm;2)对所述基准信号和损伤信号进行预处理后做差,得到差值信号,并对所述差值信号通过Hilbert变换提取差值信号包络;3)从所述差值信号包络中提取直达波差值包络,以直达波差值包络的最大幅值衡量对应直达波差值的大小;4)获取每个传感器作为激励传感器时对应的直达波差值中最大的2组检测数据所在的传感器对,将所有传感器对分别用直线连接,获得2n条直线;5)以C均值聚类算法获得所述2n条直线的交点的聚类中心,以获得的聚类中心作为缺陷位置。
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