[发明专利]一种波片快慢轴检测方法有效
申请号: | 201710229703.5 | 申请日: | 2017-04-10 |
公开(公告)号: | CN106950038B | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 韩培高;牛明生;苏富芳;史萌 | 申请(专利权)人: | 曲阜师范大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 273165 山东省济*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及波片检测技术领域,特别涉及一种波片快慢轴的检测方法。该方法根据对波片快慢轴间相位延迟量差的色散特性的分析,利用椭圆偏振光谱仪对相位差的精确测量,设计了一种波片快慢轴检测方法,该波片快慢轴检测方法理论简洁、清晰,操作方便,检测速度快,且无需事先知晓波片材质、使用波长以及对应的相位差。 | ||
搜索关键词: | 一种 快慢 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种波片快慢轴检测方法,包括以下步骤:(1)将椭圆偏振光谱仪的起偏臂和检偏臂调至水平透射模式;(2)旋转起偏臂中的起偏器,将氙灯出射光调为P方向‑竖直方向振动的线偏光,在起偏臂和检偏臂之间放入检偏器,旋转检偏器至消光;(3)将待检测波片放入起偏臂和检偏器之间,使入射光线垂直波片表面,旋转波片,至光路再次出现消光;(4)旋转起偏臂中的起偏器,将出射线偏光振动方向调至与P方向成45度角方向;(5)撤出检偏器,扫描波片P、S‑水平方向两方向上相位差的色散曲线;其特征在于包括步骤(6):(6)根据上述步骤(5)得到的P、S两方向上相位差色散曲线斜率的正负情况判断波片快慢轴方向。
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