[发明专利]一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法有效

专利信息
申请号: 201710222672.0 申请日: 2017-04-07
公开(公告)号: CN107015181B 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 蔡淑惠;陈浩;陈忠 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01R33/44 分类号: G01R33/44;G01R33/46
代理公司: 35200 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 代理人: 马应森
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,涉及核磁共振波谱学检测方法。在磁场强度不均匀的情况下,核磁共振氢谱谱线增宽,使谱峰相互重叠、无法辨识归属,也无法准确测量对应基团质子的纵向弛豫时间。采用分子间二量子相干信号选择技术,结合空间编码超快速采样方法,在不均匀磁场下快速获取高分辨一维谱,恢复各谱峰的化学位移信息。同时利用反转恢复方法,测量谱峰的幅值受到反转恢复时间调制后的变化情况,拟合幅值变化曲线,即可得到对应的纵向弛豫时间。可以在不均匀磁场下得到纵向弛豫时间,有助于了解分子化学交换速率等动态信息,对信号优化、数据定量等具有重要意义。
搜索关键词: 一种 不均匀 磁场 测量 质子 纵向 弛豫时间 方法
【主权项】:
1.一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,其特征在于包括以下步骤:/n1)将待测样品装入核磁管,并将装入待测样品后的核磁管送入核磁共振波谱仪的检测腔;/n2)在核磁共振波谱仪的操作台上打开波谱仪控制软件,调用非选择性π/2射频脉冲序列采集一维氢谱,获得谱峰分布和谱宽信息,然后进行射频线圈调谐;/n3)测量非选择性π/2射频脉冲宽度以及溶剂选择性(π/2)
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门大学,未经厦门大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710222672.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top