[发明专利]一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法有效
申请号: | 201710222672.0 | 申请日: | 2017-04-07 |
公开(公告)号: | CN107015181B | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 蔡淑惠;陈浩;陈忠 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G01R33/44 | 分类号: | G01R33/44;G01R33/46 |
代理公司: | 35200 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 马应森 |
地址: | 361005 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,涉及核磁共振波谱学检测方法。在磁场强度不均匀的情况下,核磁共振氢谱谱线增宽,使谱峰相互重叠、无法辨识归属,也无法准确测量对应基团质子的纵向弛豫时间。采用分子间二量子相干信号选择技术,结合空间编码超快速采样方法,在不均匀磁场下快速获取高分辨一维谱,恢复各谱峰的化学位移信息。同时利用反转恢复方法,测量谱峰的幅值受到反转恢复时间调制后的变化情况,拟合幅值变化曲线,即可得到对应的纵向弛豫时间。可以在不均匀磁场下得到纵向弛豫时间,有助于了解分子化学交换速率等动态信息,对信号优化、数据定量等具有重要意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 不均匀 磁场 测量 质子 纵向 弛豫时间 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在不均匀磁场下测量质子纵向弛豫时间的方法,其特征在于包括以下步骤:/n1)将待测样品装入核磁管,并将装入待测样品后的核磁管送入核磁共振波谱仪的检测腔;/n2)在核磁共振波谱仪的操作台上打开波谱仪控制软件,调用非选择性π/2射频脉冲序列采集一维氢谱,获得谱峰分布和谱宽信息,然后进行射频线圈调谐;/n3)测量非选择性π/2射频脉冲宽度以及溶剂选择性(π/2)
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