[发明专利]处理器核心中的自测试有效
| 申请号： | 201710216193.8 | 申请日： | 2017-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN107451019B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 巴拉吉·韦尼;考塞尔·雅各布·乔哈尔;马尔科·博尼诺 | 申请（专利权）人： | ARM有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 林强 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及处理器核心中的自测试。公开了用于处理器核心自测试的装置和方法。装置包括处理器核心电路，用于通过执行数据处理指令来执行数据处理操作。单独的自测试控制电路使得处理器核心电路暂时从执行数据处理指令的第一状态切换到执行自测试指令序列的第二状态，然后在不需要重新启动处理器核心电路的情况下返回执行数据处理指令的第一状态。还存在自测试支持电路，其中处理器核心电路响应于自测试指令序列，来通过自测试支持电路将至少一个自测试数据条目导出到自测试控制电路。 | ||
| 搜索关键词： | 处理器 核心 中的 测试 | ||
【主权项】：
一种装置，包括：处理器核心电路，用于通过执行数据处理指令来执行数据处理操作；自测试控制电路，用于使得所述处理器核心电路暂时从执行所述数据处理指令的第一状态切换到执行自测试指令序列的第二状态，然后在不需要重新启动所述处理器核心电路的情况下返回执行所述数据处理指令的所述第一状态；以及自测试支持电路，其中所述处理器核心电路响应于所述自测试指令序列，来通过所述自测试支持电路将至少一个自测试数据条目导出到所述自测试控制电路。
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