[发明专利]一种适于MC-1柱面准等熵压缩的测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201710197502.1 申请日: 2017-03-29
公开(公告)号: CN106970140B 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 周中玉;谷卓伟;陆禹;仝延锦;谭福利;赵剑衡;孙承纬 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
主分类号: G01N27/72 分类号: G01N27/72
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 王记明
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种适合于MC‑1柱面准等熵压缩的测量结构及测量方法,包括金属筒体,以及内部的柱面准等熵压缩靶,柱面准等熵压缩靶的内部安装有测量探头,并使所述测量探头的激光测速光纤探针的测量点和磁感应线圈位于柱面准等熵压缩靶的中平面上;在测量探头内设置有多路激光测速光纤探针、多个磁感应线圈、支撑定位杆、绝缘保护套。该测量结构利用激光测速技术测量样品靶内壁速度,同时利用磁感应原理测量待测材料和标准材料的界面速度历史。所获得的自由面和界面速度历史利用磁流体动力学编码进行数据处理,即得到待测绝缘材料高精度的高压物性数据,本发明解决了现有MC‑1准等熵压缩物理实验存在的测量数据有限且精度较低的问题。
搜索关键词: 一种 适于 mc 柱面 压缩 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种适合于MC‑1柱面准等熵压缩的测量结构,包括金属筒体(1),其特征在于,在金属筒体(1)的内部轴线处设置有柱面准等熵压缩靶,在柱面准等熵压缩靶的内部轴线处安装有测量探头(5);通过样品管限位塞(8)将测量探头(5)限位固定到柱面准等熵压缩靶的端部,使测量探头(5)的至少一路激光测量点和至少一个磁感应线圈位于柱面准等熵压缩靶的中平面上。
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