[发明专利]直接数字频率合成器电路动态参数测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种DDS电路动态参数测试系统及方法，该方法包括：测试系统向设置有待测试的DDS电路的DUT板输入与DDS电路功能对应的测试向量，并控制高相噪信号发生器、和低噪声的电源生成DUT板需要的时钟信号和电压；DUT板在时钟信号的控制下输出与测试向量对应的输出信号，频谱分析仪和相位噪声测试仪在接收该信号后产生相应数据并返回测试系统，测试系统利用采样数据和预先设置的数值范围进行比较，确定DDS电路是否合格。本发明成功地对DDS电路进行自动化测试，解决了传统手动测试DDS电路动态参数时的测试难题，大大提高了DDS电路动态参数的测试效率，节约了测试成本。

主权项

1.一种直接数字频率合成器DDS电路动态参数测试系统，其特征在于，所述DDS电路动态参数测试系统包括测试系统、DUT板、高相躁信号源、低噪声电源、频谱分析仪和相位噪声测试仪，其中：所述测试系统通过SMA线以及Pin68线与所述DUT板连接，所述测试系统还通过SMA线分别与所述频谱分析仪以及所述相位噪声测试仪连接；所述DUT板通过SMA线与所述高相躁信号源连接，所述DUT板还通过电源连接线与所述低噪声电源连接；所述测试系统通过通用接口总线GPIB分别与所述高相躁信号源、所述低噪声电源、所述频谱分析仪以及所述相位噪声测试仪连接；所述测试系统与所述DUT板内设置的待测试的DDS电路电性连接；其中：所述测试系统向所述DUT板输入测试向量，所述测试向量是对所述DUT板内待测试的DDS电路的测试功能仿真得到的信号；所述测试系统控制所述高相躁信号源产生所述DUT板需要的时钟信号，控制所述低噪声电源产生所述DUT板所需的电压；所述DUT板在所述电压以及所述时钟信号的作用下工作，向所述测试系统输出与所述测试向量对应的输出信号；所述测试系统通过高频模拟开关对所述输出信号进行切换，将切换后的信号分别输入至所述频谱分析仪以及所述相位噪声测试仪；所述频谱分析仪以及所述相位噪声测试仪接收所述切换后的信号后分别对各自产生的信号进行采样，将采样得到的数据回传给所述测试系统；所述测试系统根据所述采样得到的数据输出测试结果；所述频谱分析仪对切换后的所述信号进行采样，得到第一类采样数据，将所述第一类采样数据回传给所述测试系统，相位噪声测试仪对切换后的所述信号进行采样，得到第二类采样数据，将所述第二类采样数据回传给所述测试系统；所述测试系统判定接收到的第一类采样数据是否位于第一预定范围内，判定接收到的第二类采样数据是否位于第二预定范围内，并输出判定结果。