[发明专利]一种合成孔径雷达成像方法及装置有效
申请号: | 201710166296.8 | 申请日: | 2017-03-20 |
公开(公告)号: | CN106908792B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
发明(设计)人: | 郑明洁;禹卫东;张磊;王宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 王花丽;张颖玲 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种合成孔径雷达成像方法及装置,其中,所述方法包括:确定所述SAR进行方位向波束扫描的扫描参数;其中,所述扫描参数至少包括:最大扫描角度和扫描周期;控制所述SAR在预设的开始时刻进行初始扫描角度为所述最大扫描角度、时长为所述扫描时间的本次方位向波束扫描;在本次方位向波束扫描后,控制所述SAR进行初始扫描角度为所述最大扫描角度、时长为所述扫描周期的下一次方位向波束扫描直至预设的结束时刻到达;将从所述开始时刻到所述结束时刻之间得到的方位向波束扫描的回波数据进行SAR成像。 | ||
搜索关键词: | 一种 合成孔径雷达 成像 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种合成孔径雷达SAR成像方法,其特征在于,所述方法包括:确定所述SAR进行方位向波束扫描的扫描参数;其中,所述扫描参数至少包括:最大扫描角度和扫描周期;控制所述SAR在预设的开始时刻进行初始扫描角度为所述最大扫描角度、时长为所述扫描时间的本次方位向波束扫描;在本次方位向波束扫描后,控制所述SAR进行初始扫描角度为所述最大扫描角度、时长为所述扫描周期的下一次方位向波束扫描直至预设的结束时刻到达;根据从所述开始时刻到所述结束时刻之间得到的方位向波束扫描的回波数据进行SAR成像。
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