[发明专利]具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法有效
| 申请号： | 201710159581.7 | 申请日： | 2017-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN107026696B | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 赵安平;艾付强;尹鸿焰 | 申请（专利权）人： | 深圳市信维通信股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 张明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，包括：在待测设备上确定待测点；根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合；分别判断各测试点对应的参数是否均满足其对应的预设条件；若是，则确定所述待测点为基准点；若否，则确定新的待测点；继续进行所述根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合的步骤。本发明可正确地确定出基准点，避免原来可通过认证的NFC天线由于未移动到最佳相对位置而导致认证不成功，从而提高认证准确率。特别，基准点的选取范围和移动的方向是按照待测NFC天线穿过测试天线线圈的磁通量绝对值来进行判断的。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 天线 模式 nfc 认证 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，包括：在待测设备上确定待测点；根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合；分别判断各测试点对应的参数是否均满足其对应的预设条件；若是，则确定所述待测点为基准点；若否，则确定新的待测点；继续进行所述根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合的步骤。
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