[发明专利]光发射端幅频响应测量装置有效

专利信息
申请号: 201710145856.1 申请日: 2017-03-13
公开(公告)号: CN108574526B 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 陶振宁;宿晓飞;陈浩 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: H04B10/077 分类号: H04B10/077
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 陶海萍
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明实施例提供一种光发射端幅频响应测量装置,通过发射端发射两路信号中的一路信号、不发射另一路信号;发射两路信号中的该另一路信号、不发射该一路信号;其中,发射的信号是梳状谱信号;对发射的信号进行调制,以分别获得第一光信号和第二光信号;分别测量该第一光信号和第二光信号在各频率分量上的第一功率和第二功率,以根据该第一功率和第二功率获得最终的该一路信号的幅频响应和该另一路信号的幅频响应,通过上述实施例测量幅频响应,测量过程简单且测量结果准确。
搜索关键词: 发射 端幅频 响应 测量 装置
【主权项】:
1.一种光发射端幅频响应测量装置,所述光发射端包括光调制器,所述装置包括:发送单元,其用于发射两路信号中的一路信号、不发射另一路信号;发射两路信号中的所述另一路信号、不发射所述一路信号;其中,发射的信号是梳状谱信号;测量单元,其用于分别测量发射的一路信号和另一路信号经过所述光调制器调制后的第一光信号和第二光信号在各频率分量上的第一功率和第二功率;第一计算单元,其用于根据所述第一功率和第二功率获得最终的所述一路信号的幅频响应和所述另一路信号的幅频响应。
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