[发明专利]新型笔式探头扰动磁场检测系统在审
| 申请号： | 201710145050.2 | 申请日： | 2017-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN106680364A | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 胡玉柱;刘骥;张显亮 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨理工大学 |
| 主分类号： | G01N27/83 | 分类号： | G01N27/83 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150080 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 新型笔式探头扰动磁场检测系统，运用扰动磁场技术，对物体表面是否具有缺陷进行检测，包括信号检测模块，信号放大模块，信号滤波模块以及电脑显示模块。其中所述信号检测模块包括新型笔试探头，激励信号源模块，MCU模块以及功率放大模块；同时在所述新型笔试探头的检测下，信号检测模块所检测到的信号，通过信号放大模块，将信号进行放大处理，然后经过信号滤波模块对信号进行滤波操作，经过对信号的处理，将所检测信号输入计算机操作系统，进行分析，最后以波形图进行数据的综合分析。 | ||
| 搜索关键词： | 新型 探头 扰动 磁场 检测 系统 | ||
【主权项】：
新型笔式探头扰动磁场检测系统，包括信号检测模块，信号放大模块，信号滤波模块以及电脑显示模块；所述信号检测模块包括新型笔试探头，激励信号源模块，MCU模块以及功率放大模块；所述新型笔式探头的结构与常规探头一样，也是由激励线圈、U 型磁芯和检测线圈三部分组成，只是在探头的尺寸上进行了修改，使探头的检测效果更加灵敏，可以检测到常规探头难以扫查的部位，从而提高检测范围，增强灵敏度。
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