[发明专利]触控力检测方法、触控力检测装置、触控面板及显示装置

摘要

本发明提供一种触控力检测方法、触控力检测装置、触控面板及显示装置，其包括以下步骤：S1，获得待检测面板的触控点数目N，N为大于或等于1的整数；S2，任意选择待检测面板上的M个测试位置，M为大于或等于N的整数，并获得各个测试位置的电容变化量；该电容变化量为在触摸待检测面板时，其感应电极与参考电极之间的电容在该测试位置处的变化量；S3，根据各个测试位置处的所述电容变化量，获得各个测试位置的面板形变量；S4，根据面板形变量与触控力的对应关系计算获得触控点处的触控力。本发明提供的触控力检测方法，其可以实现对单个或多个手指的触控力度进行检测。

主权项

1.一种触控力检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，获得待检测面板的触控点数目N，N为大于或等于1的整数；S2，任意选择所述待检测面板上的M个测试位置，M为大于或等于N的整数，并获得各个所述测试位置的电容变化量；所述电容变化量为在触摸所述待检测面板时，其感应电极与参考电极之间的电容在该测试位置处的变化量；S3，根据各个所述测试位置处的所述电容变化量，获得各个所述测试位置的面板形变量；S4，根据所述面板形变量与触控力的对应关系计算获得所述触控点处的触控力；在所述步骤S4中，当N≥2时，取M≥2，通过求解下述联立方程式获得各个所述触控点处的触控力；...其中，w₁～w_M为第1个～第M个所述测试位置处的所述面板形变量；P_i为单独在所述待检测面板的第i个所述触控点施加的触控力，i＝1,2,...,N；f_i1～f_iM为P_i分别在第1个～第M个所述测试位置处的形变权重。