[发明专利]检测一维微纳米材料热电性能参数的设备及方法有效

专利信息
申请号: 201710139104.4 申请日: 2017-03-09
公开(公告)号: CN107085007B 公开(公告)日: 2019-07-26
发明(设计)人: 张兴;石少义;马维刚 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20;G01R27/02;G01R31/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 赵天月
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出了检测一维微纳米材料热电性能参数的设备及方法。该检测设备包括:加热线,其两端分别与第一热沉、第二热沉相连;第一感应线,平行设置在加热线的下方,且两端分别与第三热沉、第四热沉相连;第二感应线,平行设置在第一感应线的下方,且两端分别与第五热沉、第六热沉相连;加热电源,与加热线相连并用于对加热线进行加热;第一电参数检测组件,与第一感应线相连且用于对第一感应线的电参数进行检测;以及第二电参数检测组件,与第二感应线相连且用于对第二感应线的电参数进行检测。本发明所提出的检测设备,可用于检测一维微纳米材料的热电性能参数,将接触热电阻引起的误差大大减小,提高测量的精度。
搜索关键词: 检测 一维微 纳米 材料 热电 性能参数 设备 方法
【主权项】:
1.一种用于检测一维微纳米材料热电性能参数的设备,其特征在于,包括:加热线,所述加热线的第一端与第一热沉相连,所述加热线的第二端与第二热沉相连,且所述加热线上设置有第一搭接点;第一感应线,所述第一感应线与所述加热线的两端齐平,且所述第一感应线平行设置在所述加热线的下方,并且所述第一感应线的第一端与第三热沉相连,所述第一感应线的第二端与第四热沉相连,而且,所述第一感应线上设置有第二搭接点;第二感应线,所述第二感应线与所述第一感应线的两端齐平,且所述第二感应线平行设置在所述第一感应线的下方,并且所述第二感应线的第一端与第五热沉相连,所述第二感应线的第二端与第六热沉相连,而且,所述第二感应线上设置有第三搭接点;加热电源,所述加热电源与所述加热线相连,用于对所述加热线进行加热;第一电参数检测组件,所述第一电参数检测组件与所述第一感应线相连,用于对所述第一感应线的电参数进行检测,且包括第一电源、第一电阻、第一电压表以及第二电压表,所述第一电阻、所述第一电源和所述第一感应线串联构成电回路,所述第一电压表与所述第一电阻并联,所述第二电压表与所述第一感应线并联;第二电参数检测组件,所述第二电参数检测组件与所述第二感应线相连,用于对所述第二感应线的电参数进行检测,且包括第二电源、第二电阻、第三电压表以及第四电压表,所述第二电阻、所述第二电源和所述第二感应线串联构成电回路,所述第三电压表与所述第二电阻并联,所述第四电压表与所述第二感应线并联;第三电参数检测组件,所述第三电参数检测组件用于检测所述第二搭接点与所述第三搭接点之间的电参数。
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