[发明专利]一种三维测量仪用结构光投影方法在审
| 申请号： | 201710107067.9 | 申请日： | 2017-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN106871816A | 公开（公告）日： | 2017-06-20 |
| 发明（设计）人： | 冯震;王拥军;杨双收;岳叶;吴迪;王琦 | 申请（专利权）人： | 北京首量科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京中海智圣知识产权代理有限公司11282 | 代理人： | 罗建平 |
| 地址： | 101111 北京市通州区中关村*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于三维测量技术领域，涉及一种三维测量仪用结构光投影方法。包括，步骤1.通过绘图软件生成结构光图案并打印；步骤2.用胶片照相机拍摄所述结构光图案；步骤3.冲洗所述胶片；步骤4.搭建三维测量平台；步骤5.将被测量物放置于光学通路中，在所述投影屏上形成清晰的图像。本发明的有益效果为采用胶片配合平行光路能够实现结构光的投影，降低了基于结构光方式的三维测量仪的成本，定型生产后有利于未来产品的成本控制，有利于市场竞争。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 三维 测量仪 结构 投影 方法 | ||
【主权项】：
一种三维测量仪用结构光投影方法，包括，步骤1.通过绘图软件生成结构光图案并打印；步骤2.用胶片照相机拍摄所述结构光图案；步骤3.冲洗所述胶片；步骤4.搭建三维测量平台，包括，设置投影屏，在所述投影屏的一侧设置光源，在所述投影屏和所述光源之间设置光学透镜，调整所述光学透镜位置，使得所述光源位于所述光学透镜的焦点处，在所述光学透镜与所述投影屏之间设置胶片，并调整所述胶片的位置，使得所述光源发出的光线通过所述光学透镜和所述胶片后，在所述投影屏上形成清晰的图像；步骤5.将被测量物放置于所述胶片和所述投影屏之间，并且置于所述平台的光学通路中，在所述投影屏上形成清晰的图像。
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