[发明专利]一种材料电磁特性参数无损反射测量方法及装置有效
申请号: | 201710049312.5 | 申请日: | 2017-01-23 |
公开(公告)号: | CN106707037B | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 李路同;杨伟;林志鹏;李睿明;胡皓全;唐璞;何子远;陈波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 郭受刚 |
地址: | 610000 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种材料电磁特性参数无损反射测量方法及装置,所述方法包括:步骤1:利用喇叭天线发射电磁波,介质透镜将电磁波转化为平面波;步骤2:将透镜和喇叭天线视为一个整体,并用二端口散射矩阵来表征该整体的电磁特性,利用校准方法消除路径散射误差以及失配误差;步骤3:平面波与平板型介质材料相互作用产生反射波,反射波沿原路径返回被喇叭天线接收,喇叭天线将接收到的反射波传输到矢量网络分析仪,将校准数据引入得到介质表面的反射系数;步骤4:将测试得到的介质表面反射系数与理论值进行对比,得到介质材料电磁特性参数;实现了测量步骤简化,整个测量过程易于实现,能够实现对介质的无损非接触测量的技术效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 材料 电磁 特性 参数 无损 反射 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种材料电磁特性参数无损反射测量方法,其特征在于,所述方法包括:步骤1:利用喇叭天线发射电磁波,介质透镜将电磁波转化为平面波;步骤2:将透镜和喇叭天线视为一个整体,并用二端口散射矩阵来表征该整体的电磁特性,利用校准方法消除路径散射误差以及失配误差;步骤3:平面波与平板型介质材料相互作用产生反射波,反射波沿原路径返回被喇叭天线接收,喇叭天线将接收到的反射波传输到矢量网络分析仪,将校准数据引入得到介质表面的反射系数;步骤4:将测试得到的介质表面反射系数与理论值进行对比,得到介质材料电磁特性参数;利用矢量网络分析仪引入校准方法测量介质材料表面的反射系数,具体包括:测试状态一:用矢量网络分析仪测量无反射物时,透镜和喇叭天线的反射系数Γ0,则有:Γ0=S11测试状态二:用矢量网络分析仪测量金属反射板垂直放置在测试参考面时,透镜和喇叭天线的反射系数为Γ1,则有:Γ1=S11+S12·S21e2jφ+π其中,φ为透镜距测试参考面的距离d对应的电长度,j为虚数单位,π为圆周率;测试状态三:用矢量网络分析仪测量被测介质材料垂直放置在测试参考面时,透镜和喇叭天线的反射系数为Γ2,则有:Γ2=S11+Γ·S12·S21e2jφ+π其中,Γ为被测介质材料表面的反射系数;基于三种状态测试得到的反射系数Γ0、Γ1、Γ2,计算得到被测介质材料表面的反射系数Γ:
将测试得到的被测介质材料表面的反射系数Γ与平面波入射介质材料表面反射系数理论值进行比对,得到其介电常数的最优解εr,其中,S11为1端口的反射系数,S12为1端口到2端口的传输系数,S21为2端口到1端口的传输系数,S22为2端口的反射系数。
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