[发明专利]光检测装置以及光检测系统有效
| 申请号： | 201710046904.1 | 申请日： | 2017-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN107270946B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 西胁青儿;鸣海建治;盐野照弘 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01D5/28 | 分类号： | G01D5/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 齐秀凤 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请提供一种光检测装置以及光检测系统。本公开的一形态所涉及的光检测装置具备：光检测器，包含第1检测器以及第2检测器；光耦合层，配置在所述光检测器上或者上方；以及偏振元件阵列，配置在所述光耦合层上。所述光耦合层依次包含第1低折射率层、第1高折射率层以及第2低折射率层，所述第1高折射率层包含第1光栅以及与所述第1光栅相邻的第2光栅。所述偏振元件阵列包含使在一方向上偏振的光透过的第1偏振元件、以及与所述第1偏振元件相邻且对在所述一方向上偏振的光进行遮光的第2偏振元件。所述第1光栅以及所述第1偏振元件分别与所述第1检测器对置，所述第2光栅以及所述第2偏振元件分别与所述第2检测器对置。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 以及 系统 | ||
【主权项】：
一种光检测装置，具备：光检测器，具有主面，包含沿着所述主面配置的第1检测器以及第2检测器；光耦合层，配置在所述光检测器上或者上方；以及偏振元件阵列，配置在所述光耦合层上，所述光耦合层包含：第1低折射率层；第1高折射率层，配置在所述第1低折射率层上，包含在第1方向上具有周期性的第1光栅、以及与所述第1光栅相邻且在与所述第1方向正交的第2方向上具有周期性的第2光栅；以及第2低折射率层，配置在所述第1高折射率层上，所述第1高折射率层具有比所述第1低折射率层以及所述第2低折射率层高的折射率，所述偏振元件阵列包含：使在一方向上偏振的光透过的第1偏振元件、以及与所述第1偏振元件相邻且对在所述一方向上偏振的光进行遮光的第2偏振元件，所述第1光栅以及所述第1偏振元件分别与所述第1检测器对置，所述第2光栅以及所述第2偏振元件分别与所述第2检测器对置。
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