[发明专利]测量系统有效

专利信息
申请号: 201710022602.0 申请日: 2017-01-12
公开(公告)号: CN106871958B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 费香泽;欧文浩;刘彬;程永锋 申请(专利权)人: 中国电力科学研究院
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 方艳辉
地址: 100192 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种测量系统。该系统包括:测距装置、定位装置、温湿度检测装置和控制装置;其中,测距装置用于检测待测点与基准点之间的距离参数;定位装置用于检测待测点的地理位置参数;温湿度检测装置用于检测待测点的温湿度参数;控制装置与测距装置、定位装置和温湿度检测装置均电连接,用于接收并存储距离参数、地理位置参数和温湿度参数,以及将接收的距离参数、地理位置参数和温湿度参数与相对应的参数预设值进行比对,以及控制比对偏差大于预设偏差的参数进行重新检测。本发明中的测量系统提高了测量工作和数据处理的效率,并且保证了有效时间内测量数据的可靠性。
搜索关键词: 测量 系统
【主权项】:
一种测量系统,其特征在于,包括:测距装置(10)、定位装置(20)、温湿度检测装置(30)和控制装置(40);其中,所述测距装置(10)用于检测待测点与基准点之间的距离参数;所述定位装置(20)用于检测所述待测点的地理位置参数;所述温湿度检测装置(30)用于检测所述待测点的温湿度参数;所述控制装置(40)与所述测距装置(10)、所述定位装置(20)和所述温湿度检测装置(30)均电连接,用于接收并存储所述距离参数、所述地理位置参数和所述温湿度参数,以及将接收的所述距离参数、所述地理位置参数和所述温湿度参数与相对应的参数预设值进行比对,以及控制比对偏差大于预设偏差的参数进行重新检测。
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