[发明专利]一种测量孔中心距的检具有效
| 申请号： | 201710012463.3 | 申请日： | 2017-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN106767315B | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 廖祖明 | 申请（专利权）人： | 重庆长安汽车股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/14 | 分类号： | G01B5/14 |
| 代理公司： | 重庆华科专利事务所 50123 | 代理人： | 徐先禄 |
| 地址： | 400023 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量孔中心距的检具，包括底板，基准量规，偏心量规，基准量规从下到上依次由基准销、第一基准轴和第一手柄构成，偏心量规从下到上依次由偏心销、第二基准轴、表盘和第二手柄构成，底板上设置有与基准量规间隙配合的第一基准孔和与偏心量规间隙配合的第二基准孔，第一基准孔和第二基准孔的中心距等于被测工件孔的中心距的标准值，底板的顶面上设置有校准刻记，校准刻记沿表盘径向设在表盘边缘，底板的底面与被测工件的顶面贴合，基准量规和偏心量规分别穿过第一基准孔和第二基准孔与被测工件的孔间隙配合。其结构简单，操作简便快捷，能够快速、准确地测量销孔中心距，判断被测工件是否达标，提高生产效率，降低检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 中心 | ||
【主权项】：
1.一种测量孔中心距的检具，包括底板（2）、基准量规（1）、偏心量规（3），其特征在于：所述基准量规（1）从下到上依次由基准销（11）、第一基准轴（12）和第一手柄（13）构成，所述偏心量规从下到上依次由偏心销（31）、第二基准轴（32）、表盘（33）和第二手柄（34）构成，所述表盘（33）与第二基准轴（32）紧配合或为一整体结构，所述底板（2）上设置有与基准量规（1）间隙配合的第一基准孔（21）和与偏心量规（3）间隙配合的第二基准孔（22），所述第一基准孔（21）和第二基准孔（22）的中心距等于被测工件孔的中心距（41）的标准值，所述底板（2）的顶面上设置有校准刻记（23），所述校准刻记（23）径向沿表盘（33）设在所述表盘（33）边缘，所述底板（2）的底面与被测工件（4）的顶面贴合，所述基准量规（1）和偏心量规（3）分别穿过第一基准孔（21）和第二基准孔（22）与被测工件（4）的孔间隙配合。
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