[发明专利]硬化层深度测量装置有效
| 申请号： | 201680014059.3 | 申请日： | 2016-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN107407659B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 三阪佳孝;川崎一博;樱井健太;后藤雄治 | 申请（专利权）人： | 高周波热錬株式会社;国立大学法人大分大学 |
| 主分类号： | G01N27/72 | 分类号： | G01N27/72;G01B7/06 |
| 代理公司： | 北京奉思知识产权代理有限公司 11464 | 代理人： | 吴立;邹轶鲛 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测量在淬火工件的表层形成的硬化层的深度的装置。该装置包括：被构造为产生磁通量以使工件磁化的激励线圈，以及被构造为检测由激励线圈产生的磁通量的检测线圈。激励线圈具有U形的激励芯部和缠绕于激励芯部的激励线圈部。激励芯部被布置为使得激励芯部的磁极的末端面对工件。检测线圈具有检测芯部和缠绕于检测芯部的检测线圈。检测芯部被布置为，位于激励芯部的磁极之间并沿着工件的表面。 | ||
| 搜索关键词： | 硬化 深度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种被构造为测量在淬火工件的表层形成的硬化层的深度的硬化层深度测量装置，该硬化层深度测量装置包括：激励线圈，该激励线圈被构造为产生磁通量以使所述工件磁化；以及检测线圈，该检测线圈被构造为检测由所述激励线圈产生的磁通量，其中，所述激励线圈包括U形的激励芯部和缠绕于所述激励芯部的激励线圈部，所述激励芯部被布置为使得所述激励芯部的磁极的末端面对所述工件，并且其中，所述检测线圈包括检测芯部和检测线圈，所述检测芯部具有数层磁性片，所述检测线圈缠绕于检测芯部，所述检测芯部被布置为，位于所述激励芯部的所述磁极之间并沿着所述工件的表面。
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