[发明专利]成像粒子分析装置有效
| 申请号： | 201680003512.0 | 申请日： | 2016-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN107430052B | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 赵在亨;李慜;金南日 | 申请（专利权）人： | 唯因弗SYS株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/47;G01N21/01;G01N21/39 |
| 代理公司： | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人： | 朱健 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种成像粒子分析装置，具体而言，提供成像粒子分析装置，所述装置以通过图像采集装置对粒子进行拍摄的影像为基础对粒子大小、形状等粒子特性进行分析。为此，本发明包括：样品毛细管，其注入有分析对象粒子；载物台，其上放置有所述样品毛细管；下部光源，其对所述样品毛细管的下面照射光；光学系统，其利用所述下部光源向样品毛细管照射光，据此所述光透过的样品毛细管上的粒子使得光散射，并通过图像采集装置对基于所述散射光的影像进行路径诱导；图像采集装置，在特定时间内拍摄从所述光学系统得到路径诱导的散射光影像；以及计算机，其利用所述分析对象粒子相关的输入信息和对所述图像采集装置拍摄的特定时间内的散射光影像帧进行信号处理的结果来分析粒子特性。 | ||
| 搜索关键词： | 成像 粒子 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种成像粒子分析装置，其包括：样品毛细管，其注入有分析对象粒子；载物台，其上放置有所述样品毛细管；下部光源，其对所述样品毛细管的下面照射光；光学系统，其利用所述下部光源向样品毛细管照射光，据此所述光透过的样品毛细管上的粒子使得光散射，并通过图像采集装置对基于所述散射光的影像进行路径诱导；图像采集装置，在特定时间内拍摄从所述光学系统得到路径诱导的散射光影像；以及计算机，其利用所述分析对象粒子相关的输入信息和对所述图像采集装置拍摄的特定时间内的散射光影像帧进行信号处理的结果来分析粒子特性。
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