[实用新型]一种ADC动态测试系统有效
| 申请号： | 201621109047.2 | 申请日： | 2016-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN206412999U | 公开（公告）日： | 2017-08-15 |
| 发明（设计）人： | 汪伟;吴忠洁;娄方超;蒋醒元;张波 | 申请（专利权）人： | 上海灵动微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种ADC动态测试系统，包括ADC装置、测试控制装置、SRAM存储装置；ADC装置接收模拟测试信号，根据预设的采样频率采样得到待测试数据，将待测试数据发送至测试控制装置；测试控制装置接收待测试数据并进行测试，将得到的测试结果数据进行转换得到转换数据，将转换数据发送至SRAM存储装置，并发送控制指令至SRAM存储装置；SRAM存储装置接收转换数据并存储，根据控制指令将存储的转换数据发送至测试控制装置。本实用新型解决了现有ADC测试中采集速度过快，导致分析数据费时费力、丢数据、数据实时存储困难的问题和管脚多的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 adc 动态 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种ADC动态测试系统，其特征在于，包括：ADC装置、测试控制装置和SRAM存储装置；其中，所述ADC装置与测试控制装置通讯连接，接收模拟测试信号，根据预设的采样频率采样抓取所述模拟测试信号得到待测试数据，将所述待测试数据发送至所述测试控制装置；所述测试控制装置与所述SRAM存储装置通讯连接，接收所述ADC装置发送的所述待测试数据，对所述待测试数据进行测试得到测试结果数据，将所述测试结果数据进行转换得到转换数据，将所述转换数据发送至所述SRAM存储装置，并发送控制指令至所述SRAM存储装置；所述SRAM存储装置接收所述测试控制装置发送的所述转换数据，并存储所述转换数据，根据所述控制指令将存储的所述转换数据发送至所述测试控制装置。
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