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[发明专利]一种芯片的批量测试方法及系统-CN201610885299.2有效
发明人：沈佳浩;吴忠洁;娄方超;蒋醒元;张波 -专利权人：上海灵动微电子股份有限公司
申请日： 2016-10-10 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片的批量测试方法及系统，包括：步骤S300主控芯片通过数据信号总线向待检测芯片的第一总线端口发送检测指令信息；步骤S400所述待检测芯片通过所述第一总线端口接收所述主控芯片发送的所述检测指令信息；步骤S500所述待检测芯片根据第一预设地址信息，向所述主控芯片发送响应指令；步骤S600所述主控芯片根据所述第一预设地址信息的所述响应指令判断所述待检测芯片的工作状态；当异常时，执行步骤S700；步骤S700利用同一所述第一预设地址信息中的所述待检测芯片替换异常的所述待检测芯片。实现对大批量芯片同时测试的一套系统，能够实时监测待检芯片的工作状态。
一种芯片批量测试方法系统

[发明专利]一种模拟I2C从机及其实现方法、终端设备和存储介质-CN201911127894.X有效
发明人：刘宪管;陈辉;娄方超;吴忠洁 -专利权人：上海灵动微电子股份有限公司
申请日： 2019-11-18 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G06F13/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种模拟I2C从机及其实现方法、终端设备和存储介质，其方法包括：上电后对硬件外设进行初始化设置；每当I2C主机发送数据时，通过计时器的输入捕获来触发DMA控制器传输I2C主机发送的数据；每当完成一个字节的数据传输后进入接收中断流程，并对每次传输过来的数据进行解析；根据解析结果进行数据有效性判断，并根据判断结果向I2C主机反馈对应的响应信息。本发明实现模拟I2C从机的同时，降低芯片的CPU资源占用，提升了数据传输的实时性，进而大大提高了通信速度。
一种模拟 i2c 及其实现方法终端设备存储介质

[发明专利]一种基于AFP协议的数据传输方法-CN201810022069.2有效
发明人：陶明;吴忠洁;娄方超;蒋醒元;张波;田世甦;刘强;孙庆凯;李佳伟;陶迎霞 -专利权人：上海灵动微电子股份有限公司
申请日： 2018-01-10 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： H04L1/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于AFP协议的数据传输方法，包括步骤S100发送端判断总线是否处于空闲状态；步骤S200当所述总线处于空闲状态时，所述发送端向所述总线发送数据帧；步骤S300接收端根据所述发送端配置的时钟频率，接收所述发送端发送的所述数据帧。本发明通过发送端驱动时钟线与数据线的方式，实现总线上各端口地位平等，无需区分主从模式的目的。
一种基于 afp 协议数据传输方法

[实用新型]一种OCV阀测控装置及系统-CN201921868853.1有效
发明人：杨柳;陈辉;娄方超;吴忠洁 -专利权人：灵动集成电路南京有限公司
申请日： 2019-11-01 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： F01L1/344 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种OCV阀测控装置及系统，其装置包括：MCU模块、传感器模块、电源转换模块、及通信模块；其中：电源转换模块，用于接收外接电源，并将外接电源进行电源转换，获得不同规格的电压，以提供给不同的模块所需的工作电压；MCU模块通过通信模块与上位机通信连接，用以接收上位机下发的测控指令，进而设置驱动待测OCV阀运动的发动机的转速；传感器模块，用于采集待测OCV阀的运动参数数据和性能参数数据，并将其传输给MCU模块，以便MCU模块据此判断待测OCV阀的性能。该测控装置具有提高系统稳定性和检测阀体性能准确度、减小装置体积、降低成本以及可快速批量化投放于市场的特点。
一种 ocv 测控装置系统

[发明专利]一种OCV阀测控装置、方法及系统-CN201911059327.5在审
发明人：杨柳;陈辉;娄方超;吴忠洁 -专利权人：灵动集成电路南京有限公司
申请日： 2019-11-01 - 公布日： 2020-01-17 - 主分类号： F01L1/344 文献下载
摘要：本发明公开了一种OCV阀测控装置、方法及系统。其装置包括：主控模块、测量采集模块、操作执行模块、及用以提供不同规格的工作电压的电源转换模块；其中：上位机向主控模块下发测控指令；使其根据测控指令通过操作执行模块设置发动机工况，及驱动控制OCV阀运动；测量采集模块采集OCV阀的运动参数；上位机或主控模块根据采集到的运动参数，结合测控指令中的目标运动参数，生成调节控制信号，调节控制OCV阀的运动；测量采集模块采集OCV阀的性能参数，并将该性能参数发送给主控模块，用以判断OCV阀的性能是否合格。该测控装置具有提高系统稳定性和检测阀体性能准确度、减小装置体积、降低成本以及可快速批量化投放于市场的特点。
主控模块采集模块测控操作执行模块测控装置性能参数运动参数测量指令上位机采集电源转换模块目标运动参数发动机工况系统稳定性工作电压减小装置控制信号驱动控制准确度检测阀批量化投放

[实用新型]一种ADC动态测试系统-CN201621109047.2有效
发明人：汪伟;吴忠洁;娄方超;蒋醒元;张波 -专利权人：上海灵动微电子股份有限公司
申请日： 2016-10-10 - 公布日： 2017-08-15 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种ADC动态测试系统，包括ADC装置、测试控制装置、SRAM存储装置；ADC装置接收模拟测试信号，根据预设的采样频率采样得到待测试数据，将待测试数据发送至测试控制装置；测试控制装置接收待测试数据并进行测试，将得到的测试结果数据进行转换得到转换数据，将转换数据发送至SRAM存储装置，并发送控制指令至SRAM存储装置；SRAM存储装置接收转换数据并存储，根据控制指令将存储的转换数据发送至测试控制装置。本实用新型解决了现有ADC测试中采集速度过快，导致分析数据费时费力、丢数据、数据实时存储困难的问题和管脚多的问题。
一种 adc 动态测试系统

[实用新型]一种芯片的批量测试系统-CN201621109076.9有效
发明人：沈佳浩;吴忠洁;娄方超;蒋醒元;张波 -专利权人：上海灵动微电子股份有限公司
申请日： 2016-10-10 - 公布日： 2017-04-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片的批量测试系统，包括主控芯片、待检测芯片、第一数据总线、第二数据总线，主控芯片的第一总线端口；待检测芯片的第一数据端口，主控芯片的第一总线端口通过第一数据总线向待检测芯片的第一总线端口发送检测指令信息；待检测芯片通过待检测芯片的第一数据端口接收主控芯片发送的检测指令信息；待检测芯片根据第一预设地址信息向主控芯片发送响应指令；主控芯片根据第一预设地址信息反馈的响应指令信息判断待检测芯片的工作状态；当待检测芯片的工作状态异常时，主控芯片利用同一第一预设地址信息中的待检测芯片替换异常的待检测芯片。实现对大批量芯片同时测试的一套系统，能够实时监测待检芯片的工作状态。
一种芯片批量测试系统