[实用新型]集成电路直流测试探针设备有效
| 申请号： | 201620959782.6 | 申请日： | 2016-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN206649060U | 公开（公告）日： | 2017-11-17 |
| 发明（设计）人： | 陈一峰 | 申请（专利权）人： | 成都海威华芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙)51223 | 代理人： | 徐丰,胡川 |
| 地址： | 610029 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种集成电路直流测试探针设备，其包括探针台和探针基座，探针基座的一端设有探针，探针台内设有电磁控件，探针基座的底部设有软磁材料层，当电磁控件通电时，电磁控件对软磁材料层产生电磁吸力，将探针基座固定在探针台上，当电磁控件断电时，电磁吸力消失。通过上述方式，本实用新型能够根据测试需要固定或移动探针基座。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 直流 测试 探针 设备 | ||
【主权项】：
一种集成电路直流测试探针设备，其特征在于，包括探针台和探针基座，所述探针基座的一端设有探针，所述探针台内设有电磁控件，所述探针基座的底部设有软磁材料层，当所述电磁控件通电时，所述电磁控件对所述软磁材料层产生电磁吸力，将所述探针基座固定在所述探针台上，当所述电磁控件断电时，所述电磁吸力消失。
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