[实用新型]一种晶元片检测头结构

摘要

本实用新型涉及自动化检测工装技术领域，公开了一种晶元片检测头结构，包括探针座，探针座的上端中心设有凹腔，凹腔底部设有若干探针定位通孔，探针定位通孔内设有探针，探针的下端伸出探针座底面，凹腔的底面设有与探针一一对应连接的导电片，导电片与凹腔底面之间螺栓连接，每个导电片上均设有导电柱，凹腔的内壁上设有环形阶梯面，环形阶梯面上设有线路板，线路板与导电柱之间电连接，凹腔的开口端设有端盖，端盖与凹腔开口端之间螺纹连接，端盖的上侧面中心设有连接柱。本实用新型与自动检测设备连接使用，极大提高晶元片的检测效率；同时自身密封性能好，防水防尘性能好，稳定性好，确保晶元的检测精度。

主权项

一种晶元片检测头结构，其特征是，包括探针座，所述探针座的上端中心设有凹腔，所述凹腔底部设有若干探针定位通孔，所述探针定位通孔内设有探针，所述探针的下端伸出探针座底面，所述凹腔的底面设有与探针一一对应连接的导电片，所述的导电片与凹腔底面之间螺栓连接，每个导电片上均设有导电柱，所述凹腔的内壁上设有环形阶梯面，所述的环形阶梯面上设有线路板，所述的线路板与导电柱之间电连接，所述凹腔的开口端设有端盖，端盖与凹腔开口端之间螺纹连接，所述端盖的上侧面中心设有连接柱；所述的探针座由电木制成。