[实用新型]液晶模组测试设备有效
申请号: | 201620761211.1 | 申请日: | 2016-07-19 |
公开(公告)号: | CN206096669U | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 张亦雄 | 申请(专利权)人: | 江西联思触控技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 何世磊 |
地址: | 330096 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本实用新型提供一种液晶模组测试设备,用于测试待测液晶模组,包括基板,设于所述基板一侧的输入模块,设于所述基板上的核心控制模块、总线控制模块、数据存储模块、测试接口、电源模块及显示模块,所述核心控制模块采用型号为STC11L60XE的控制器,所述核心控制模块分别与所述总线控制模块、所述数据存储模块、所述测试接口及所述显示模块连接,用于接收所述检测信息,一方面传输给所述显示模块进行显示和编辑,一方面将所述检测信息通过所述测试接口传输给所述待测液晶模组。由于设有所述核心控制模块采用型号为STC11L60XE的控制器,所以使得所述液晶模组测试设备的测试系统变得更简单,没有采用ARM9或FPGA设计的测试设备那么复杂,且制造成本降低。 | ||
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【主权项】:
一种液晶模组测试设备,用于测试待测液晶模组,包括基板,设于所述基板一侧的输入模块,其特征在于:进一步包括设于所述基板上的核心控制模块、总线控制模块、数据存储模块、测试接口、电源模块及显示模块;所述输入模块与所述核心控制模块连接,输入所述待测液晶模组需要检测的检测信息,并传送给所述核心控制模块;所述核心控制模块采用型号为STC11L60XE的控制器,所述核心控制模块分别与所述总线控制模块、所述数据存储模块、所述测试接口及所述显示模块连接,用于接收所述检测信息,一方面传输给所述显示模块进行显示和编辑,另一方面将所述检测信息通过所述测试接口传输给所述待测液晶模组;所述总线控制模块分别与所述数据存储模块及所述测试接口连接。
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