[实用新型]一种高精度低g值SOI微加速度计有效

专利信息
申请号: 201620563072.1 申请日: 2016-06-13
公开(公告)号: CN205665264U 公开(公告)日: 2016-10-26
发明(设计)人: 张照云;苏伟;唐彬;高杨;彭勃;陈颖慧;熊壮 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院电子工程研究所
主分类号: G01P15/125 分类号: G01P15/125
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开一种高精度低g值SOI微加速度计,包括由上至下设置的结构层、绝缘层、衬底层和基底层,绝缘层设在结构层跟衬底层之间;该结构层上设有第一质量块、可动梳齿、固定梳齿以及金属引线电极,可动梳齿一端跟第一质量块连接,另一端为自由端,固定梳齿一端通过第一锚点分别跟绝缘层和基底层连接,另一端为自由端;可动梳齿跟固定梳齿相间构成平行板电容器;该衬底层上设有第二质量块、支撑梁,支撑梁的一端跟第二质量块连接,另一端通过第二锚点跟基底层连接。
搜索关键词: 一种 高精度 soi 加速度计
【主权项】:
一种高精度低g值SOI微加速度计,其特征在于:包括由上至下设置的结构层、绝缘层、衬底层和基底层,绝缘层设在结构层跟衬底层之间;该结构层上设有第一质量块、可动梳齿、固定梳齿以及金属引线电极,可动梳齿一端跟第一质量块连接,另一端为自由端,固定梳齿一端通过第一锚点分别跟绝缘层和基底层连接,另一端为自由端;可动梳齿跟固定梳齿相间构成平行板电容器;该衬底层上设有第二质量块、支撑梁,支撑梁的一端跟第二质量块连接,另一端通过第二锚点跟基底层连接。
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