[实用新型]半导体激光器偏振测试装置有效
| 申请号： | 201620452102.1 | 申请日： | 2016-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN205691317U | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 鲁开源;米格尔多纳西门托 | 申请（专利权）人： | 昂纳信息技术（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 | 代理人： | 陈琳 |
| 地址： | 518000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种半导体激光器偏振测试装置，其包括：半导体激光器、与该半导体激光器连接的单模光纤、以及与该单模光纤连接的功率计；其中，还包括压设在该单模光纤上的第一光纤夹具、以及支撑该单模光纤的第二光纤夹具。本实用新型通过第一光纤夹具和第二光纤夹具在水平方向挤压单模光纤来改变偏振态，并通过激光器的功率测试值来判断偏振态的变化，确定受偏振影响的最低功率输出点；本实用新型测试装置结构更加简单、直观、便于操作；本测试装置简单、测试快、成本低，在几秒钟之内就能判断出受偏振影响的最低功率点。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 偏振 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体激光器偏振测试装置，其特征在于，其包括：半导体激光器、与该半导体激光器连接的单模光纤、以及与该单模光纤连接的功率计；其中，还包括压设在该单模光纤上的第一光纤夹具、以及支撑该单模光纤的第二光纤夹具。
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