[实用新型]一种通用开放式发射机调试测试系统有效

专利信息
申请号: 201620268612.3 申请日: 2016-03-31
公开(公告)号: CN205484781U 公开(公告)日: 2016-08-17
发明(设计)人: 张延超;龙晓云;胡恒艳;张伟;关宾 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 合肥金安专利事务所 34114 代理人: 吴娜
地址: 230088 安徽*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种通用开放式发射机调试测试系统,包括耦合器,耦合器的第一输出端与频谱仪的输入端相连,耦合器的第二输出端与衰减器的输入端相连,衰减器的输出端与功率计的输入端相连,功率计、频谱仪均与GPIB采集卡双向通讯,GPIB采集卡与调试计算机双向通讯;频率源输出门套信号至开放式信号处理板,频率源与GPIB卡双向通讯,开放式信号处理板分别与待测发射机、可扩展指示控制面板双向通讯,多路电源分别向开放式信号处理板、可扩展指示控制面板供电。本实用新型的通用性和开放性强,能够直观反应待测发射机的回馈状态,控制命令实施简单方便,抗干扰能力强。
搜索关键词: 一种 通用 开放式 发射机 调试 测试 系统
【主权项】:
一种通用开放式发射机调试测试系统,其特征在于:包括用于接收待测发射机输出的射频信号并对该射频信号的一部分进行耦合的耦合器,耦合器的第一输出端与用于对耦合信号进行频谱分析的频谱仪的输入端相连,耦合器的第二输出端与用于对未经耦合的射频信号进行衰减的衰减器的输入端相连,衰减器的输出端与用于对衰减信号进行功率测量的功率计的输入端相连,功率计、频谱仪均与GPIB采集卡双向通讯,GPIB采集卡与调试计算机双向通讯;频率源输出门套信号至开放式信号处理板(1),频率源与GPIB卡双向通讯,开放式信号处理板(1)分别与待测发射机、可扩展指示控制面板(2)双向通讯,多路电源分别向开放式信号处理板(1)、可扩展指示控制面板(2)供电。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第三十八研究所,未经中国电子科技集团公司第三十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620268612.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top