[实用新型]一种通用开放式发射机调试测试系统有效
申请号: | 201620268612.3 | 申请日: | 2016-03-31 |
公开(公告)号: | CN205484781U | 公开(公告)日: | 2016-08-17 |
发明(设计)人: | 张延超;龙晓云;胡恒艳;张伟;关宾 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 合肥金安专利事务所 34114 | 代理人: | 吴娜 |
地址: | 230088 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种通用开放式发射机调试测试系统,包括耦合器,耦合器的第一输出端与频谱仪的输入端相连,耦合器的第二输出端与衰减器的输入端相连,衰减器的输出端与功率计的输入端相连,功率计、频谱仪均与GPIB采集卡双向通讯,GPIB采集卡与调试计算机双向通讯;频率源输出门套信号至开放式信号处理板,频率源与GPIB卡双向通讯,开放式信号处理板分别与待测发射机、可扩展指示控制面板双向通讯,多路电源分别向开放式信号处理板、可扩展指示控制面板供电。本实用新型的通用性和开放性强,能够直观反应待测发射机的回馈状态,控制命令实施简单方便,抗干扰能力强。 | ||
搜索关键词: | 一种 通用 开放式 发射机 调试 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种通用开放式发射机调试测试系统,其特征在于:包括用于接收待测发射机输出的射频信号并对该射频信号的一部分进行耦合的耦合器,耦合器的第一输出端与用于对耦合信号进行频谱分析的频谱仪的输入端相连,耦合器的第二输出端与用于对未经耦合的射频信号进行衰减的衰减器的输入端相连,衰减器的输出端与用于对衰减信号进行功率测量的功率计的输入端相连,功率计、频谱仪均与GPIB采集卡双向通讯,GPIB采集卡与调试计算机双向通讯;频率源输出门套信号至开放式信号处理板(1),频率源与GPIB卡双向通讯,开放式信号处理板(1)分别与待测发射机、可扩展指示控制面板(2)双向通讯,多路电源分别向开放式信号处理板(1)、可扩展指示控制面板(2)供电。
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