[实用新型]一种分析天平有效

专利信息
申请号: 201620156987.0 申请日: 2016-03-01
公开(公告)号: CN205655896U 公开(公告)日: 2016-10-19
发明(设计)人: 戴贵辉 申请(专利权)人: 广东中健检测技术有限公司
主分类号: G01G1/34 分类号: G01G1/34;G01G21/08
代理公司: 深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355 代理人: 孔丽霞
地址: 523000 广东省东莞市南城*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种分析天平,所述分析天平包括:测量基座、测量室和测量平台;其中,测量基座的四角设置4个槽孔,该分析天平还包括:与该4个槽孔配合的柱体、插销,该柱体的侧面设置有与插销配合的定位孔,该4个槽孔的一侧设置有高度不同的多个限位孔。本实用新型提供的技术方案具有用户使用方便的优点。
搜索关键词: 一种 分析 天平
【主权项】:
一种分析天平,其特征在于,所述分析天平包括:测量基座、测量室和测量平台;其中,测量基座的四角设置4个槽孔,该分析天平还包括:与该4个槽孔配合的柱体、插销,该柱体的侧面设置有与插销配合的定位孔,该4个槽孔的一侧设置有高度不同的多个限位孔。
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