[实用新型]一种快速通过电气测试的调试电路有效
| 申请号： | 201620054919.3 | 申请日： | 2016-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN205539230U | 公开（公告）日： | 2016-08-31 |
| 发明（设计）人： | 沈树康;朱来敏;徐海;张朝;毛富强 | 申请（专利权）人： | 上海杉德金卡信息系统科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 翁若莹 |
| 地址： | 200233 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种快速通过电气测试的调试电路，包括与待测试的芯片相连的电源电路及连接在待测试的芯片的接收端上的接收电路，其特征在于，还包括与待测试的芯片的发射端相连的低通滤波电路，低通滤波电路连接由两个串联电容及一个并联电容构成的匹配电路，匹配电路与经过矢量网络分析仪调试后的天线相连。本实用新型具有如下优点：实现的电路结构简单、操作简便，可提高测试人员的调试效率；减少因元器件反复调试导致的元器件损坏和整机系统的破坏；适用于多种读卡芯片，兼容性强；减少测试认证时间和流程，降低了人力、物力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 通过 电气 测试 调试 电路 | ||
【主权项】：
一种快速通过电气测试的调试电路，包括与待测试的芯片相连的电源电路及连接在待测试的芯片的接收端上的接收电路，其特征在于，还包括与待测试的芯片的发射端相连的低通滤波电路，低通滤波电路连接由两个串联电容及一个并联电容构成的匹配电路，匹配电路与经过矢量网络分析仪调试后的天线相连。
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