[发明专利]用于X射线检测器的阵列基板以及包括其的X射线检测器

摘要

本公开涉及用于X射线检测器的阵列基板以及包括其的X射线检测器。阵列基板限定为有源区和焊盘区，其中焊盘区包括多个测试区，测试区包括第一测试图案和第二测试图案。第一测试图案包括：在基板上的第一栅电极；在第一栅电极上的第一有源层；在第一有源层上的第一源/漏电极；以及在第一源/漏电极上的第一数据线，并且第二测试图案包括：在基板上的第一下电极，在第一下电极上的第一光电导层；以及在第一光电导层上的第一上电极，从而以高精度测量晶体管和光检测器中的每一个的特性。