[发明专利]一种阵列基板、显示面板以及短路的检测方法有效
| 申请号： | 201611247168.8 | 申请日： | 2016-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN106707570B | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 安立扬 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 黄瑜 |
| 地址： | 518006 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种具有新型的像素结构的阵列基板、显示面板以及该显示面板的分压电容电极短路的检测方法。其中，所述阵列基板的所述像素结构包括依次排列的多个子像素，每一所述子像素包括主区、次区以及分压电容；其中，任一所述子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻另一所述子像素的所述次区的下方。通过上述方式，使像素电极的短路只会发生在不同子像素的分压电容与次区之间，从而在阵列测试中更易于检查出缺陷像素。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 显示 面板 以及 短路 检测 方法 | ||
【主权项】：
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