[发明专利]显示模组点灯测试装置及方法

摘要

本发明公开了一种显示模组点灯测试装置及方法，该装置用于对待测显示模组进行点灯测试，包括：存储器、外围电路及现场可编程门阵列芯片，其中，现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器，微处理器用于输出初始化信息，且微处理器连接显示界面控制器，现场可编程门阵列芯片通过显示界面控制器而连接待测显示模组，以输出初始化信息至待测显示模组从而对待测显示模组进行初始化操作，并输出处理后的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试。通过上述方式，本发明能够简化点灯测试装置的硬件部分，减少外围电路设计，降低电子元器件的使用数量，提升点灯装置的稳定性，方便研发人员维护。

主权项

1.一种显示模组点灯测试装置，用于对待测显示模组进行点灯测试，其特征在于，包括：存储器，用于存储进行所述点灯测试所需的图片数据；外围电路，接收用户指令并根据所述用户指令而输出对应的控制指令；现场可编程门阵列芯片，与所述存储器与所述外围电路连接以接收所述图片数据和所述控制指令，根据所述控制指令而产生对应的控制参数，并根据所述控制参数对所述图片数据进行处理以输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组，从而对所述待测显示模组进行点灯测试；其中，所述现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器，所述微处理器用于输出初始化信息，且所述微处理器连接所述显示界面控制器，所述现场可编程门阵列芯片通过所述显示界面控制器而连接所述待测显示模组，以输出所述初始化信息至所述待测显示模组从而对所述待测显示模组进行初始化操作，并输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组，从而对所述待测显示模组进行点灯测试；所述现场可编程门阵列芯片内进一步包括：存储控制器，与所述存储器连接以读取所述存储器内存储的所述图片数据；I²C从控制器，与所述外围电路连接以接收所述外围电路所输出的所述控制指令；参数配置控制器，与所述I²C从控制器连接以根据所述控制指令而产生对应的控制参数；图片产生器；PG产生器，其中，所述图片产生器和所述PG产生器分别与所述存储控制器连接以分别接收所述存储器所输出的所述图片数据，且所述图片产生器和所述PG产生器进一步分别与所述参数配置控制器，以分别根据控制参数而对所述图片数据进行处理；模式选择控制器，分别连接所述图片产生器和所述PG产生器，以根据其选择的工作模式而选择所述图片产生器和所述PG产生器之一所输出的处理后图片数据作为处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据进行输出，且所述模式选择控制器进一步连接所述显示界面控制器，以通过所述显示界面控制器而输出选择的所述图片产生器和所述PG产生器之一所输出的处理后图片数据至所述待测显示模组。