[发明专利]导电滑环故障测试装置和测试方法有效

专利信息
申请号: 201611245459.3 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106680630B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 胡俊杰;李路 申请(专利权)人: 北京金风科创风电设备有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/08;G01R27/20
代理公司: 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 曾世骁;郭鸿禧<国际申请>=<国际公布>
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 提供一种导电滑环故障测试装置和方法,其中,所述测试装置与导电滑环电连接以形成一测试回路,其中,所述测试装置包括:恒定电流产生电路,当所述测试装置处于接触电阻测试模式下时,向测试回路提供第一恒定电流;采集系统,确定第一恒定电流流经导电滑环时导电滑环两端的电压值;处理器,基于电压值,确定第一恒定电流下导电滑环的接触电阻值,比较接触电阻值和第一电阻阈值的大小,其中,当接触电阻值不小于第一电阻阈值时,发送指示导电滑环已故障的结果信息;当接触电阻值小于第一电阻阈值时,发送指示导电滑环工作正常的结果信息。根据所述测试装置和方法,能够及时发现导电滑环的故障,从而解决了现场导电滑环故障检测困难的问题。
搜索关键词: 导电 滑环 故障测试 装置 测试 方法
【主权项】:
1.一种导电滑环故障测试装置,所述测试装置与导电滑环电连接以形成一测试回路,其特征在于,所述测试装置包括:/n恒定电流产生电路,当所述测试装置处于接触电阻测试模式下时,向所述测试回路提供第一恒定电流;/n升压电路,当所述测试装置处于绝缘电阻测试模式下时,向所述测试回路提供第一测试电压;/n采集系统,确定第一恒定电流流经导电滑环时导电滑环两端的电压值;/n处理器,基于所述电压值,确定第一恒定电流下导电滑环的接触电阻值,比较所述接触电阻值和第一电阻阈值的大小,其中,当所述接触电阻值不小于所述第一电阻阈值时,发送指示导电滑环已故障的结果信息;当所述接触电阻值小于所述第一电阻阈值时,发送指示导电滑环工作正常的结果信息,/n其中,当所述测试装置处于接触电阻测试模式下时,如果导电滑环处于静止状态,则确定的接触电阻值为导电滑环的静态接触电阻,如果导电滑环处于转动状态,则确定的接触电阻值为导电滑环的动态接触电阻,/n其中,当所述测试装置处于接触电阻测试模式下时,所述测试回路中串联有第一采样电阻,/n其中,所述恒定电流产生电路包括:/n电源,连接到导电滑环的一端;/n第一采样放大模块,采集第一采样电阻两端的电压,并将第一采样电阻两端的电压进行放大处理;/n电压比较模块,比较经放大处理的第一采样电阻两端的电压与第一参考电压的大小,并基于比较结果确定调节参数;/n可调负载,基于所述调节参数改变自身的导通程度,以保持导电滑环处于静止状态时和处于转动状态时流经所述测试回路的电流为第一恒定电流,/n其中,导电滑环的另一端连接到可调负载的一个连接端;/n其中,所述测试装置还包括接口电路,/n其中,所述接口电路包括N个通道,所述N个通道与导电滑环的N个通道一一对应,N为大于2的整数;/n其中,每个通道包括第一继电器、第二继电器、第三继电器、第四继电器、第五继电器和第六继电器,/n其中,当所述测试装置处于接触电阻测试模式下时,第I通道的第三继电器和第四继电器连接到常闭点,从而恒定电流产生电路向导电滑环的第I通道提供第一恒定电流,其中,I为小于等于N的正整数;/n其中,当所述测试装置处于绝缘电阻测试模式下时,第J通道的第一继电器和第二继电器连接到常开点,以从升压电路接收正电压,第J+1通道的第一继电器和第二继电器连接到常闭点,以从升压电路接收负电压,第J通道的第三继电器和第四继电器连接到常开点,从而分别连接到第J通道的第一继电器和第二继电器,并且第J+1通道的第三继电器和第四继电器连接到常开点,从而分别连接到第J+1通道的第一继电器和第二继电器,其中,J为大于等于1小于N的整数;/n其中,当采集系统执行采集操作时,第K通道的第五继电器和第六继电器连接到常闭点时,从而采集系统连接到导电滑环的第K通道,以采集导电滑环的第K通道两端的电压值,其中,K为小于等于N的正整数。/n
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