[发明专利]一种平板外延炉温场的调节方法在审

专利信息
申请号: 201611216992.7 申请日: 2016-12-26
公开(公告)号: CN106783545A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 刘勇;金龙;谭卫东 申请(专利权)人: 南京国盛电子有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙)32204 代理人: 张弛
地址: 210000 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种改进的8寸平板外延炉温场的调节方法,用离子注入法注入N型杂质离子制备成注入片,该注入片中的N型杂质离子在高温下被激活,从而表面形成P‑N结。时间一定时,N型杂质离子被激活的量是与温度成正比,通过测试不同温度下烘烤后的注入片的方块电阻,得到温度和方块电阻的线性关系,以此为基础,通过量测烘烤后的注入片片内多点的方块电阻,得到温场分布情况,指导温场调节,能够快速地得到外延炉腔体内的温场分布情况。
搜索关键词: 一种 平板 外延 炉温 调节 方法
【主权项】:
一种平板外延炉温场的调节方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)、对注入片在炉腔内进行烘烤,此时炉腔内具有初始温度补偿值;(2)、将烘烤好的注入片用湿法去除表面氧化层;(3)、用四探针测试注入片表面的方块电阻,以温度作为横坐标,方块电阻作为纵坐标,测试不同温度下烘烤的注入片中心点的方块电阻,进行线性拟合,线性拟合指数R2为0.9933,从而得到方块电阻和温度之间的对应关系;(4)、四探针测试得到片内多点的方块电阻分布情况;(5)、根据步骤(4)中注入片内多点的方块电阻分布情况,得到各区域相比于中心点的方块电阻差值,根据温度和方块电阻的折算关系,得到各区域相比中心点的温度偏差关系,从而得到各区域的实际温度分布;(6)、根据步骤(5)中得到的实际温度分布,在初始的温度补偿值基础上进行修正,得到一组理想温度补偿值。
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