[发明专利]一种IOL测试验证方法和装置在审
| 申请号： | 201611209490.1 | 申请日： | 2016-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN106814306A | 公开（公告）日： | 2017-06-09 |
| 发明（设计）人： | 张健;蒯金 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人： | 江婷 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种IOL测试验证方法和装置，将FPGA中的各个待验证的IOL单元串接，并建立与各级IOL单元对应的比对链；将激励输入串接的IOL单元中的第一级IOL单元和比对链，激励沿着串接的IOL单元进行传递，其中，上一级的IOL单元的输出作为下一级的IOL单元的输入，将各级IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对，根据比对结果判断IOL单元功能和/或连接关系是否正常。通过本发明的实施，通过IOL单元链与比对链之间的输出的比对，实现了对IOL功能正常与否以及各单元的引脚的连接关系正确是否的验证，保证了IOL测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 iol 测试 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种IOL测试验证方法，包括：将FPGA中的各个待验证的IOL单元串接，并建立与各级所述IOL单元对应的比对链；将激励输入串接的所述IOL单元中的第一级IOL单元和所述比对链，所述激励沿着串接的所述IOL单元进行传递，其中，上一级的所述IOL单元的输出作为下一级的所述IOL单元的输入；将各级所述IOL单元的输出与对应的比对链的输出进行比对，根据比对结果判断所述IOL单元功能和/或连接关系是否正常。
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