[发明专利]一种微波材料介电常数及电调率的测试装置及方法

摘要

本发明公开了一种微波材料介电常数及电调率的测试装置及方法，包括平行设置的上金属平板及下金属平板，上金属平板与下金属平板之间设有介质谐振器,所述下金属平板的两端分别设有一个由金属板围成的矩形的空腔，空腔位于下金属平板的下方，每个空腔内设有同轴馈电探针。本发明采用上述技术方案的装置及方法具有以下技术效果该装置将同轴馈电探针内置于金属平板围成的空腔中，避免了高压电极与同轴馈电探针之间的放电效应，因此可用于测量高压偏置下材料的介电常数。

主权项

一种微波材料介电常数及电调率的测试装置，包括平行设置的上金属平板（3）及下金属平板（6），上金属平板（3）与下金属平板（6）之间设有介质谐振器,其特征在于：所述下金属平板（6）的两端分别设有一个由金属板围成的矩形的空腔（11），空腔（11）位于下金属平板（6）的下方，每个空腔（11）内设有同轴馈电探针（4）。