[发明专利]用于测量装置的光学配置有效
申请号: | 201611179005.0 | 申请日: | 2016-12-19 |
公开(公告)号: | CN106949831B | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | D.W.塞斯科 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 葛青<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种扫描探针,以用于坐标测量机。扫描探针包括旋转位置检测配置和轴向位置检测配置,旋转位置检测配置输出表示触针联接部分围绕旋转中心的旋转的X和Y位置信号,轴向位置检测配置输出表示触针联接部分沿着轴向方向的位置的Z位置信号。Z位置信号对轴向检测偏转器在横向于轴向方向的至少一个方向上的运动基本上不敏感。X、Y和Z位置信号可以被处理,以确定触针的接触部分的3D位置,其可以包括利用Z位置信号结合扫描探针的已知三角学,从X或Y位置信号中的至少一个移除轴向运动交叉耦合分量。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 装置 光学 配置 | ||
【主权项】:
1.一种用于坐标测量机的扫描探针,所述扫描探针包括:/n触针悬挂部分,包括:/n触针联接部分,其配置为刚性地联接至触针;以及/n触针运动机构,其配置为实现所述触针联接部分沿着轴向方向的轴向运动,以及所述触针联接部分围绕旋转中心的旋转运动;以及/n触针位置检测部分,包括:/n光源配置;/n旋转位置检测配置,包括:/n旋转检测光束路径,配置为接收来自所述光源配置的光;/n旋转检测偏转器,其沿着所述旋转检测光束路径定位,并且联接至所述触针悬挂部分;以及/n旋转检测器部分,其接收来自所述旋转检测偏转器的可变偏转光束,并且输出表示所述触针联接部分围绕所述旋转中心的旋转的X和Y位置信号;以及/n轴向位置检测配置,包括:/n轴向检测光束路径,配置为接收来自所述光源配置的光;/n轴向检测偏转器,其沿着所述轴向检测光束路径定位,并且刚性地联接至所述触针悬挂部分的所述触针联接部分,以响应于所述轴向运动在轴向方向上移动,其中所述轴向检测偏转器还响应于所述旋转运动在横向于所述轴向方向的至少一个方向上移动,并且所述轴向检测偏转器包括具有横向于所述轴向方向取向的光轴的透镜,并且沿着沿所述横向方向延伸的轴向检测光束路径的一部分定位,并且所述轴向运动横向于其光轴移动所述轴向检测偏转器;以及/n轴向检测器部分,其接收来自所述轴向检测偏转器的可变偏转光束,并且输出表示所述触针联接部分沿着所述轴向方向的位置的Z位置信号,其中所述轴向位置检测配置被配置为使得来自所述轴向检测偏转器的所述可变偏转光束至少部分地由所述轴向检测偏转器聚焦,以在所述轴向检测器部分上形成点或线,并且所述轴向检测偏转器沿着横向于所述轴向方向的至少一个方向的运动改变所述点或线焦点,而基本上不改变所述点或线在所述轴向检测器部分上的有效位置,使得所述Z位置信号对所述轴向检测偏转器在横向于所述轴向方向的所述至少一个方向上的运动基本上不敏感。/n
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