[发明专利]基于调制度的宽光谱干涉的零级条纹的寻找方法在审
| 申请号： | 201611108732.8 | 申请日： | 2016-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN106556340A | 公开（公告）日： | 2017-04-05 |
| 发明（设计）人： | 陈楚怡;周毅;刘俊伯;邓钦元;邓茜;唐燕;杨勇;赵立新 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于调制度的宽光谱干涉的零级条纹的寻找方法，条纹干涉图中，利用二维傅里叶变换，获得干涉图的频谱信息，然后进行基频信息提取，进而再逆傅里叶变换，通过相关计算获得单帧条纹图中单个像素点的调制度信息，最后沿扫描方向针对单个像素点定位最大调制度值，从而确定零级条纹。这种方法可以消除光强不稳定性对测量结果带来的影响，消除高频和背景信息的干扰，提高了传统宽光谱干涉形貌测量法的精确度和灵敏度，并可以自动分辨物体或波峰的起伏变化。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 调制 光谱 干涉 条纹 寻找 方法 | ||
【主权项】：
一种基于调制度的宽光谱干涉的零级条纹的寻找方法，其特征是：条纹干涉图中，利用二维傅里叶变换，获得干涉图的频谱信息，然后进行基频信息提取，进而再逆傅里叶变换，通过相关计算获得单帧条纹图中单个像素点的调制度信息，最后沿扫描方向针对单个像素点定位最大调制度值，从而确定零级条纹。
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