[发明专利]基于断层断裂结构评价断层启闭性的方法有效
申请号: | 201611105453.6 | 申请日: | 2016-12-05 |
公开(公告)号: | CN106772675B | 公开(公告)日: | 2018-08-24 |
发明(设计)人: | 林会喜;赵乐强;秦峰;宫亚军;周涛;曾治平;刘华夏;刘慧;高剑雄;吴春文 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院 |
主分类号: | G01V11/00 | 分类号: | G01V11/00 |
代理公司: | 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司 11514 | 代理人: | 孟凡臣 |
地址: | 100027 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于断层断裂结构评价断层启闭性的方法,包括如下步骤:明确目标区域各种类断层的断裂结构特征;根据所述断裂结构特征获取不同断层结构部位的渗透率;利用所述断层结构不同部位的渗透率计算相应部位的启闭概率,然后利用所述相应部位的启闭概率计算对应层段断层的启闭概率,再通过不同层段断层的启闭概率评价所述目标区域的断层的启闭性。根据本发明提供的基于断层断裂结构评价断层启闭性的方法,考虑多种地质因素,能够满足断层封闭性定量评价的准确要求,可以广泛适用于油气资源地质勘探及开发评价领域。 | ||
搜索关键词: | 基于 断层 断裂 结构 评价 启闭 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于断层断裂结构评价断层启闭性的方法,其特征在于,包括如下步骤:S101:明确目标区域各种类断层的断裂结构特征;S102:根据所述断裂结构特征获取不同断层结构部位的渗透率;S103:利用所述断层结构不同部位的渗透率计算相应部位的启闭概率,然后利用所述相应部位的启闭概率计算对应层段断层的启闭概率,再通过不同层段断层的启闭概率评价所述目标区域的断层的启闭性;所述步骤S103包括如下子步骤:S1031:分析断层相关油气藏,选取该油气藏顶部和底部的断点,并结合步骤S102确定上盘裂缝带的渗透率、破碎带的渗透率和下盘裂缝带的渗透率;S1032:统计所述上盘裂缝带的渗透率、所述破碎带的渗透率和所述下盘裂缝带的渗透率与所述油气藏的相关性,然后建立基于显示特征与断层结构带渗透率统计概率的模型,并拟合关系启闭概率式,然后通过查表法检验统计的显著性;S1033:利用实际数据拟合公式P=100‑eAlgK+B,以获得待定系数A和B的值,式中,P为启闭概率,K为渗透率,K的单位为10‑3μm2;S1034:基于油气优先通过高渗流率介质的原则,分别选取所述断层结构不同深度下对应断层结构带的最大渗流率,并分别求取不同深度段的断层启闭概率,然后通过所有不同深度段的断层启闭概率的乘积得到该断层结构的整体启闭概率;S1035:根据所述目标区域内不同断层的启闭概率确定目标区域内具有更大启闭概率的断层和/或确定某一断层的具有更大启闭概率的位置。
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