[发明专利]显示装置以及输入装置

摘要

本发明的目的在于提供能够缩短作为待机模式进行的检测处理所要的时间，降低功耗，并防止或抑制检测错误的产生的输入装置以及显示装置。检测部(SE)通过一并地检测呈矩阵状设置的多个检测电极(Rx)的各个检测电极的静电电容，从而进行检测物体对显示面板的接近或接触的第一检测处理。并且，在第一检测处理中，在未检测到物体的接近或接触时，检测部(SE)重复第一检测处理，在第一检测处理中，在检测到物体的接近或接触时，检测部(SE)通过单独地检测多个检测电极(Rx)的各个检测电极的静电电容，从而进行检测物体的位置的第二检测处理。

主权项

1.一种显示装置，其特征在于，包括：/n显示面板，具有显示图像的显示面；/n多个第一电极，在俯视时呈矩阵状设置于所述显示面板；以及/n检测部，检测多个所述第一电极中的各个第一电极的静电电容，/n所述检测部将多个所述第一电极的全部或一部分选择作为多个检测处理用电极，一并地检测选择出的多个所述检测处理用电极中的各个检测处理用电极的静电电容，从而进行检测物体对所述显示面板接近或接触的第一检测处理，/n在所述第一检测处理中，在未检测到所述物体的接近或接触时，所述检测部重复所述第一检测处理，/n在所述第一检测处理中，在检测到所述物体的接近或接触时，所述检测部通过单独地检测多个所述第一电极中的各个第一电极的静电电容而进行检测所述物体的位置的第二检测处理，/n所述检测部包括：/n检测电路，检测多个所述第一电极中的各个第一电极的静电电容；以及/n连接电路，将多个所述第一电极中的各个第一电极与所述检测电路连接，/n所述检测部在所述第一检测处理中将选择出的多个所述检测处理用电极中的各个检测处理用电极通过所述连接电路与所述检测电路连接，从而一并地检测多个所述检测处理用电极中的各个检测处理用电极的静电电容，/n所述检测部在所述第二检测处理中通过所述连接电路将多个所述第一电极逐个或逐多个依次切换地与所述检测电路连接，从而单独地检测多个所述第一电极中的各个第一电极的静电电容，/n所述显示装置包括多个第二电极群，多个所述第二电极群在俯视时沿第五方向排列，/n多个所述第二电极群中的各个第二电极群包括：在俯视时沿与所述第五方向交叉的第六方向排列的多个所述第一电极，/n所述连接电路包括将多个所述第二电极群中的各个第二电极群与所述检测电路分别连接的多个晶体管群，/n多个所述晶体管群中的各个晶体管群包括多个第一场效晶体管，/n多个所述第一场效晶体管中的各个第一场效晶体管包括第一栅极电极，/n在所述第二电极群和所述晶体管群的组中，所述晶体管群中包括的多个所述第一场效晶体管将所述第二电极群中包括的多个所述第一电极中的各个第一电极与所述检测电路分别连接，/n所述连接电路还包括：/n多个单位寄存器电路，将所述第一场效晶体管的第一栅极电压分别提供给多个所述晶体管群中的各个晶体管群；/n电压供给电路，将所述第一场效晶体管的第二栅极电压提供给多个所述晶体管群中的各个晶体管群；以及/n多个或门电路，分别求出所述电压供给电路的输出与多个所述单位寄存器电路各自的输出的逻辑或，/n由多个所述单位寄存器电路形成移位寄存器电路，/n在所述晶体管群、所述单位寄存器电路和所述或门电路的组中，所述或门电路的输出被输入所述晶体管群中包括的多个所述第一场效晶体管中的各个第一场效晶体管的所述第一栅极电极，/n在所述第一栅极电压以及所述第二栅极电压中的任一个被输入所述第一栅极电极时，所述第一场效晶体管为导通状态，/n所述检测部在所述第一检测处理中通过所述电压供给电路供给所述第二栅极电压，从而将多个所述第二电极群的各个第二电极群中包括的多个所述第一电极选择作为多个所述检测处理用电极。/n