[发明专利]高速扫频激光光源扫频特性验证装置

摘要

高速扫频激光光源扫频特性验证装置，涉及光学相干层析成像系统的扫频光源领域，解决现有扫频激光光源验证装置无法实现扫频激光器的指标验证要求的问题，包括光纤接口、光学透镜、光栅、双狭缝挡板和光电探测器；被测扫频光源通过光纤接口后由光学透镜准直，经准直后的被测扫频光源经光栅后角度及波长发生变化，发生变化的扫频光源分别通过双狭缝挡扳上的两个狭缝出射后由对应的两个探测器接收，探测器输出的电信号的频率为被测扫频光源的扫频速率，通过检测被测扫频光源经过光栅后的角度变化范围获得被测扫频光源的波长调谐范围。本装置根据被测扫频光源的波长特性，设计双狭缝的位置，并选取不同波长相应范围的探测器。

主权项

高速扫频激光光源扫频特性验证装置，包括光纤接口(2)、光学透镜(3)、光栅(4)、双狭缝挡板(5)和两个探测器；所述光纤接口(2)、光学透镜(3)、光栅(4)、双狭缝挡板(5)以及两个探测器均安装于机箱(1)上；其特征是；被测扫频光源通过光纤接口(2)后由光学透镜(3)准直，经准直后的被测扫频光源经光栅(4)后角度及波长发生变化，所述发生变化的扫频光源分别通过双狭缝挡扳(5)上的两个狭缝出射后由对应的两个探测器接收，所述探测器输出的电信号的频率为被测扫频光源的扫频速率，通过检测被测扫频光源经过光栅(4)后的角度变化范围获得被测扫频光源的波长调谐范围。