[发明专利]无针痕电子测试治具在审

专利信息
申请号: 201611067466.9 申请日: 2016-11-28
公开(公告)号: CN106443417A 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 爵乐;吴欣 申请(专利权)人: 上海三冉科技发展有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;G01R1/073
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201108 上海市华*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种印制电路板测试装置包括多个接触元件安装在第一触点阵列体平面中,该接触元件与位于第二触点阵列体平面中的接触弹簧导通;该接触弹簧在受压时受到该第二触点阵列体支撑并且通过可拆卸的排线与一个电子控制和测试装置导通。该第一触点阵列体平面通过机械支撑组件垂直于该第二触点阵列体平面中该接触弹簧平面精确移动。只有在印制电路板测试过程中垂直方向受力时该第一触点阵列体平面和该第二触点阵列体平面之间间距减小使该印制电路板和该电子控制和测试装置导通。
搜索关键词: 无针痕 电子 测试
【主权项】:
一种用于印制电路板测试设备的两部分接触元件组件,在所述测试设备的机械压力作用下通过纵向测试针使载板或印制电路板上接触点与电子控制和测试装置导通。所述两部分接触元件组件包括:a)多个绝缘导向板组成基本上不可压缩的第一触点阵列体,所述绝缘导向板每层上有多个按规则排列的孔;多个所述纵向测试针,每个所述纵向测试在所述绝缘导向板上相应坐标有相应的孔;所述纵向测试针装在所述孔中。b)带多个孔的绝缘材料组成基本上不可压缩的第二触点阵列体;多个导电的接触弹簧,每个所述接触弹簧被安装在相应的所述孔中,一端连接所述纵向测试针,另一端通过电线与所述电子控制和测试装置相连,所述第二触点阵列体在所述接触弹簧受力时起支撑作用。其特征在于,在所述第二触点阵列体上集成一个机械支撑组件,使所述第一触点阵列体和所述第二触点阵列体之间有足够大的平面空间;当所述测试设备压床打开时所述平面空间足够大,所述纵向测试针没有压力作用于所述印制电路板;所述第一触点阵列体固定在所述机械支撑组件上,使所述第一触点阵列体垂直于所述第二触点阵列体中的所述接触弹簧面精确移动。
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