[发明专利]一种研究膜‑基体复合结构力学性质的方法及系统在审

专利信息
申请号: 201611042256.4 申请日: 2016-11-22
公开(公告)号: CN106802260A 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 冯雪;方旭飞;李燕 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N3/40 分类号: G01N3/40;G01N27/30
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司11250 代理人: 马永芬
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及工程材料技术领域,具体涉及一种纳米压痕法研究膜‑基体复合结构力学性质的方法及系统。所述膜‑基体复合结构力学性质的方法包括阳极化处理,在基材表面原位、实时生长氧化膜;压痕处理,中止极化并对所述氧化膜进行压痕处理。所述阳极化处理步骤和所述压痕处理步骤交替进行N次,N≥2,测试不同厚度比条件下的膜‑基体复合结构的弹性模量和硬度,利用纳米压痕理论建立实验测量得到的模量和硬度与膜、基体各自的模量和硬度之间的关系。所述测试膜‑基体复合结构力学性质的系统包括电化学组件和纳米压痕组件,可以极大程度地拓展纳米压痕仪所能实现的问题研究范围,并为研究电化学环境下薄膜‑基体变形机理提供新的分析手段。
搜索关键词: 一种 研究 基体 复合 结构 力学 性质 方法 系统
【主权项】:
一种研究膜‑基体复合结构力学性质的方法,其特征在于,包括以下步骤:阳极化处理,在基材表面原位、实时生长氧化膜;压痕处理,中止极化并对所述氧化膜进行压痕处理;其中,所述阳极化处理步骤和所述压痕处理步骤交替进行N次,N≥2,测试不同厚度比条件下的膜‑基体复合结构的力学参数。
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