[发明专利]一种测试凹槽可调式SOT26测试夹及其操作方法有效
| 申请号： | 201611030790.3 | 申请日： | 2016-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN106356314B | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 李国祥;吴靖宇;叶金锋;蒋节文;孙超 | 申请（专利权）人： | 长电科技（滁州）有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 安徽知问律师事务所 34134 | 代理人： | 侯晔 |
| 地址： | 239000 安徽省滁州市经济*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试凹槽可调式SOT26测试夹及其操作方法，属于芯片测试技术领域。本发明的测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹和活动夹；固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节。本发明测试夹的操作方法，通过SOT26的压入→测试→顶出的步骤，利用弹簧控制活动夹的开口及闭合，以弥补SOT26尺寸大小引起的左右偏移从而提高一次性测试的良率，同时加装了顶杆；活动夹和顶杆的协同作用，起到了测试时对SOT26的精确定位及防叠料和提高测试良率的目的，相当于提高了产能，达到了一举双得的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 凹槽 调式 sot26 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹(1)，其特征在于，还包括活动夹(2)；所述固定夹(1)和活动夹(2)通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹(2)相对于固定夹(1)的旋转实现两者之间夹口(3)的宽度调节。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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