[发明专利]一种多ADC高速交叉采样校准装置及校准方法有效

专利信息
申请号: 201611024881.6 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN106603075B 公开(公告)日: 2020-03-10
发明(设计)人: 栗永强;张永坡;布乃红;戚瑞民;杨小光;李雷;彭海军;王俊生 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 王连君
地址: 233010 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供了一种多ADC高速交叉采样校准装置及校准方法,包括相位校准、增益校准和偏移校准,相位校准主要解决采样时钟的延迟一致性问题,增益校准主要解决四路信号幅度的一致性问题,偏移校准解决了四路信号的偏移一致性问题,通过校准四路2.5GSa/s采样率ADC的相位、增益、偏移,使得四片ADC交叉采样时,采样率达到10GSa/s,并且数据重组后波形不失真,性能指标达到理想要求。本发明的整个测试校准控制电路由上位机软件和FPGA完成,经过校准后,确保相位、增益和偏移具有一致性,并将校准结果在采集显示时进行补偿,使得四路采集时钟相位差100ps,增益和偏移相同。
搜索关键词: 一种 adc 高速 交叉 采样 校准 装置 方法
【主权项】:
一种多ADC高速交叉采样校准装置,其特征在于,包括通道输入选择模块,通道输入选择模块连接有信号调理电路,信号调理电路连接有驱动电路,驱动电路分别连接有相位校准电路、增益校准电路和偏移校准电路,相位校准电路、增益校准电路和偏移校准电路均连接有高采样率ADC模块,高采样率ADC模块连接有FPGA,所述有高采样率ADC模块包括四个高采样率ADC芯片。
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