[发明专利]电感耦合等离子体质谱分析方法及质谱仪有效
| 申请号： | 201611009602.9 | 申请日： | 2016-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN106711011B | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | H·韦尔斯 | 申请（专利权）人： | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;H01J49/04;G01N27/62 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 姬利永 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电感耦合等离子体质谱分析(ICP‑MS)方法，包括下面的步骤：将包括至少一种样本物质和至少一种反应性物质的至少一个样本引入到电感耦合等离子体源中，从而形成所述至少一种反应性物质和所述至少一种样本物质的至少一个分子加成物离子；将所述至少一个分子加成物离子转移到布置在所述电感耦合等离子体源与至少一个质量分析仪之间的碰撞池中，将所述至少一个分子加成物离子或其产物转移到所述至少一个质量分析仪中，以及在所述至少一个质量分析仪中分析所述至少一个分子加成物离子或其产物的质量。还公开了一种被调适用于执行所述方法的质谱仪。 | ||
| 搜索关键词： | 分子加成物 质量分析仪 电感耦合等离子体质谱 电感耦合等离子体源 离子 反应性物质 样本物质 质谱仪 离子转移 分析 样本 引入 | ||
【主权项】：
1.一种电感耦合等离子体质谱分析(ICP‑MS)方法，包括：a.提供至少一个电感耦合等离子体源；b.将包括至少一种样本物质和至少一种反应性物质的至少一个样本引入到所述等离子体源中，从而形成所述至少一种反应性物质与所述至少一种样本物质的至少一个分子加成物离子；c.将所述至少一个分子加成物离子转移到布置在所述电感耦合等离子体源与至少一个质量分析仪之间的碰撞池中，d.将所述至少一个分子加成物离子或其产物转移到所述至少一个质量分析仪中，以及e.在所述至少一个质量分析仪中分析所述至少一个分子加成物离子或其产物的质量，其中所述样本含有具有相同标称质量的多种干扰同位素，并且其中在所述等离子体源中从所述干扰同位素中的一种干扰同位素以比其它干扰同位素更高很多的速率形成分子加成物离子。
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