[发明专利]基于Dice相似度量的三维结构面代表性试样选取方法有效
| 申请号： | 201610998577.5 | 申请日： | 2016-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN106769276B | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 杜时贵;雍睿;杨小聪;夏才初;刘文连;代永新;马成荣;黄曼;叶军;李国平 | 申请（专利权）人： | 绍兴文理学院 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/02 |
| 代理公司： | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人： | 王利强 |
| 地址： | 312000 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种基于Dice相似度量的三维结构面代表性试样选取方法，包括以下步骤：(1)获得结构面三维点云坐标数据；(2)截取处于不同位置的测试结构面坐标数据；(3)找出截取测试结构面的水平中心，垂直平面与结构面三维起伏表面的交线为结构面不同方向的起伏轮廓线；(4)计算所有截取的结构面试样不同方向的粗糙度系数；(5)按不同测量方向进行JRC的统计分析；(6)计算结构面粗糙度各向异性统计平均值的特征向量；(7)计算结构面粗糙度各向异性统计实测结果的特征向量；(8)对比每个测试结构面与统计平均值的特征向量的相似性，将相似度最高的试样作为该尺寸条件下的代表性试样。本发明能准确评价试样代表性、指导结构面试样选取。 | ||
| 搜索关键词： | 测试结构 特征向量 结构面 截取 结构面试样 计算结构 三维结构 试样选取 相似度量 坐标数据 粗糙度 粗糙度系数 试样代表性 统计 尺寸条件 起伏表面 起伏轮廓 三维点云 实测结果 水平中心 统计分析 相似度 交线 三维 测量 | ||
【主权项】：
1.一种基于Dice相似度量的三维结构面代表性试样选取方法，其特征在于：所述选取方法包括以下步骤：(1)采用三维激光扫描仪对大尺度结构面试样进行扫描，获得结构面三维点云坐标数据；(2)依据结构面试样的实验设计尺寸，在大尺度结构面三维坐标范围内截取处于不同位置的结构面坐标数据；(3)找出所截取的测试结构面的水平中心，以通过该水平中心的法线为转动轴，以设定角度方向角为间隔，作结构面的水平面的垂直平面，该平面与结构面三维起伏表面的交线为结构面不同方向的起伏轮廓线，轮廓线长度等于结构面试样的实验室设计尺寸；(4)根据结构面轮廓线的表面坐标信息，采用Barton直边法简明公式计算所有截取的结构面试样不同方向的粗糙度系数JRC；(5)根据所有试样的JRC各向统计结果，按不同测量方向进行JRC的统计分析，确定最大、最小值，并求解统计平均值；(6)计算结构面粗糙度各向异性统计平均值的特征向量；(7)依据每个测试结构面各个方向实测的JRC值，计算结构面粗糙度各向异性统计实测结果的特征向量；(8)依据Dice相似度量，对比每个测试结构面与统计平均值的特征向量的相似性，将相似度最高的试样作为该尺寸条件下的代表性试样。
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