[发明专利]一种基于CDSEM的特征识别方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610984604.3 申请日: 2016-11-09
公开(公告)号: CN108062500B 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 柏耸;袁可方 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/62
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张振军;吴敏
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种基于CDSEM的特征识别方法及装置,所述方法包括:通过CDSEM获取训练衬底的CDSEM识别信息,所述训练衬底上设置有已知的特征,所述CDSEM识别信息包括CDSEM图像及其相应的CDSEM特征曲线;根据所述训练衬底的CDSEM识别信息以及所述已知的特征对神经网络进行训练,以使得训练后的神经网络适于对待识别衬底进行特征识别。本发明的方案能够基于CDSEM对半导体衬底的特征进行更为准确的识别。
搜索关键词: 一种 基于 cdsem 特征 识别 方法 装置
【主权项】:
1.一种基于CDSEM的特征识别方法,其特征在于,包括:通过CDSEM获取训练衬底的CDSEM识别信息,所述训练衬底上设置有已知的特征,所述CDSEM识别信息包括CDSEM图像及其相应的CDSEM特征曲线;根据所述训练衬底的CDSEM识别信息以及所述已知的特征对神经网络进行训练,以使得训练后的神经网络适于对待识别衬底进行特征识别。
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